原创 直播预告 | SEM原理构造及在材料分析中的应用
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发布时间：2024-04-10 
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原标题：直播预告 | SEM原理构造及在材料分析中的应用
扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
能谱仪(EDS)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。通过SEM-EDS技术，可以实现对物质进行微观形貌及微区成分分析。
应用领域
扫描电子显微镜具有景深大、分辨率高、成像直观、放大倍数范围宽等特点。另外具有可测样品种类丰富，几乎不损伤和污染原始样品以及可同时获得形貌、结构和成分信息等优点。目前，扫描电子显微镜已被广泛用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究。配合能谱仪，可进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
应用实例
1.微观形貌实例
2.微区成分分析实例
SEM-EDS可进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的点、线、面分布分析。
点分析也称作点扫，是指将电子束只打到试样的某一点上，得到这一点的X射线谱和成分含量。线分析也称作线扫，是指电子束沿样品表面选定的直线轨迹作所含元素浓度的线扫描分析。面分析也称作面扫描，是指将电子束对样品表面某一区域进行扫描，得到这个区域的元素分布状态，每种元素由不同的颜色代表。
在本周四直播中，我们将深入学习SEM原理构造及在材料分析中的应用，帮助大家在高分子材料失效分析、异物分析和形貌分析方面加深理解并应用于生产实际中。
直播时间
3月14日（周四）17:00-18:00
直播大纲
· 工作原理
· 基本结构及功能
· 样品制备方法
· 材料分析中的应用返回搜狐，查看更多
责任编辑：
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